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  说明:购买设备前,请先咨询客服有没有现货深圳市天创美科技有限公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶...

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金属元素检测仪帮助制定有效的治理措施

金属元素检测仪是一类专门用于测定样品中金属元素种类及浓度的仪器。根据不同的检测技术,这类设备可以分为多种类型,如原子吸收光谱仪(AAS)、电感耦合等离子体质谱仪...

  • 深圳市天创美科技有限公司关于2025年清明节放假安排的通知各部门、各位同事:根据国家法定节假日安排,结合我司实际情况,现将2025年清明节放假相关事宜通知如下:一、放假时间、放假天数及放假安排放假时间:2025年4月4日(星期五)至2025年4月6日(星期日),共计3天。放假安排:4月4日(星期五)为清明节当天,全体员工放假。4月5日(星期六)为调休日,全体员工继续放假。4月6日(星期日)为正常休息日。二、清明节期间的工作安排及注意事项工作安排:放假期间,除特殊岗位需值班人员...
  • 尊敬的客户朋友们:春节将至,深圳市天创美科技有限公司提前祝您春节愉快,在新的一年里身体健康、阖家幸福、平安顺心、财运亨通、好事连连、幸福圆满!根据《国务院办公厅关于2025年部分节假日安排的通知》,结合公司实际情况,将2025年春节放假通知如下:2025年“春节”放假时间为:2025年1月26日---2月6日,共12天。2025年2月7日正常上班。温馨提示:1、公司放假,但售前售后不停。2、公司值班电话:致电客服深圳市天创美科技有限公司2025.1.24
  • 深圳市天创美科技有限公司2025年元旦放假通知尊敬的全体员工:随着2024年的脚步逐渐远去,我们即将迎来崭新的2025年。在此,公司向全体员工致以最诚挚的新年祝福!为确保大家能够度过一个欢乐、祥和的元旦假期,现将放假安排及相关注意事项通知如下:一、放假时间与安排放假时间:根据国家法定节假日安排,2025年元旦假期为1月1日(星期三),共计1天。放假安排:12月31日(星期二)正常上班,请各位员工做好工作交接,确保假期期间公司业务不受影响。1月1日(星期三)放假,期间所有员工均...

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矿石检测仪的定期维护保养方法介绍

在矿业和地质勘探领域,矿石检测仪是确保矿石质量、优化开采流程的关键工具。无论是便携式X射线荧光分析仪(XRF)还是激光诱导击穿光谱仪(LIBS),都需要定期的维护保养以保证其长期稳定运行和精确测量。本文将详细介绍矿石检测仪的定期维护保养方法,帮助用户延长仪器使用寿命,提升工作效率。1、日常检查与清洁外观检查:表面清洁:每日或每周使用干净的软布擦拭其外壳,去除灰尘和污渍,保持仪器整洁。避免使用含有腐蚀性溶剂的清洁剂,以防损坏表面涂层。连接部位检查:仔细检查所有外部连接,确保没有...

  • 引言:镀层测量的工业革命在新能源汽车电池极片涂布、5G通信元器件镀层、航空航天复合材料防护等制造领域,镀层厚度的精确控制已成为决定产品性能的核心参数。传统接触式测量方法因损伤基材、效率低下等问题逐渐被淘汰,而X射线镀层测厚仪凭借其非接触、高精度、实时性等优势,一场镀层测量的技术革命。一、技术原理:X射线与物质相互作用的科学密码荧光激发机制当高能X射线照射镀层表面时,基体原子内层电子被击出形成空穴,外层电子跃迁填补时释放特征X射线荧光。荧光强度与镀层元素含量呈正相关,而镀层厚度...
  • XRF光谱测试镀层厚度的仪器通常采用低能量X射线,且设备本身有严格的辐射防护设计,正常使用时对孕妇的影响极小(但最好穿防护服或者不要让孕妇操作设备),主要原因如下:1.辐射剂量极低-仪器产生的X射线能量较低(一般为数千电子伏特),且设备外壳、屏蔽层会大幅衰减辐射,实际泄露的剂量远低于国际安全标准(如国际辐射防护委员会规定的公众年有效剂量限值1mSv)。-正常操作时,距离仪器30厘米外的辐射剂量可忽略不计,相当于日常环境本底辐射(如天然石材、宇宙射线)的水平。2.安全防护设计-...
  • X荧光光谱仪检测电镀镀层厚度的原理,主要是基于X射线与物质的相互作用,具体如下:原理核心当X射线照射到电镀镀层表面时,镀层中的原子会被激发,从而发射出具有特定能量的荧光X射线(特征X射线)。不同元素的特征X射线能量不同,且其强度与镀层的厚度相关。通过检测这些荧光X射线的能量和强度,结合相应的物理模型和算法,即可计算出镀层的厚度。简单理解类比就像用光照一叠纸,纸越厚,透过的光强度越弱。X荧光光谱仪则是通过检测X射线穿过镀层后(或被镀层反射的)特征信号强度,来反推镀层的“厚度”。...

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